限定检索结果

文献类型

  • 6 篇 专利
  • 2 篇 期刊文献
  • 1 篇 学位论文

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  • 9 篇 电子文献

日期分布

学科分类号

  • 3 篇 理学
    • 3 篇 物理学

主题

  • 3 篇 双折射晶体劈
  • 2 篇 偏光干涉法
  • 2 篇 半波电压
  • 2 篇 物理光学
  • 1 篇 偏光干涉
  • 1 篇 偏振态检测
  • 1 篇 动态测量
  • 1 篇 液晶分子指向矢
  • 1 篇 液晶指向矢
  • 1 篇 相位测量
  • 1 篇 铌酸锂晶体

机构

  • 6 篇 福建省福州市闽侯...
  • 3 篇 福州大学

作者

  • 9 篇 裴丽燕
  • 8 篇 许灿华
  • 8 篇 马靖
  • 7 篇 邱鑫茂
  • 4 篇 施洋
  • 2 篇 吕佩伟
  • 1 篇 周雄图
  • 1 篇 徐启峰

语言

  • 9 篇 中文
检索条件"作者=裴丽燕"
9 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
用偏光干涉法动态测量扭曲向列型液晶指向矢
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光子学报 2016年 第12期45卷 111-116页
作者: 马靖 裴丽 许灿华 周雄图 福州大学物理与信息工程学院
提出一种基于双折射晶体劈的偏振态实时测量方法,并将该方法用于扭曲向列型液晶透射光的偏振态分析,实现了液晶分子平均指向矢的动态测量.利用基于晶体劈的偏光干涉法将待测光的偏振参量编码为两组干涉条纹,通过对干涉条纹定位实现偏振... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 万方期刊 万方期刊 评论
基于偏光干涉的偏振态检测研究
基于偏光干涉的偏振态检测研究
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作者: 裴丽 福州大学
学位级别:硕士
光在物体中透射和反射时偏振态都会发生改变,对光偏振态的检测可获得物体表面特征、内部折射率变化、甚至微观分子排布等信息,因而利用偏振态检测技术可以研究物体对光的响应及其微观机制,在生物、医学、农业、通信等各领域都起着重要... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论
基于晶体劈的电光晶体半波电压测量
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光子学报 2015年 第9期44卷 98-103页
作者: 裴丽 马靖 许灿华 邱鑫茂 徐启峰 福州大学物理与信息工程学院 福州大学电气工程与自动化学院
通过测量外加电压下电光晶体的相位延迟来获取半波电压.基于双折射晶体劈的偏光干涉法,将通过电光晶体后的偏振光相位延迟量转化为干涉条纹的平移,通过定位暗纹位置进行精密的线性测量.实验结果表明:偏光干涉法测量铌酸锂晶体相位延迟... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 万方期刊 万方期刊 评论
一种多角度入射单发椭偏测量方法
一种多角度入射单发椭偏测量方法
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作者: 马靖 许灿华 裴丽 邱鑫茂 施洋 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
本发明涉及一种多角度入射单发椭偏测量方法,首先提供激光束聚焦柱透镜、样品、准直柱透镜、1/4波片、晶体斜劈、检偏器、成像屏、面阵相机以及计算机,再通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动,其...
来源: 万方专利 评论
 一种基于微波片阵列的显微偏振成像装置及其实现方法
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作者: 许灿华 马靖 裴丽 邱鑫茂 吕佩伟 350108福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
本发明涉及一种基于微波片阵列的显微偏振成像装置,包括依次并排设置的一激光光源、一显微物镜、一显微目镜、一微波片阵列、一单向偏振片、一成像透镜及一面阵相机;所述激光光源与显微物镜间于所述显微物镜的焦距位置处放置待测样品...
来源: 万方专利 评论
一种线性的电光晶体半波电压快速测量装置及其方法
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作者: 许灿华 马靖 裴丽 邱鑫茂 施洋 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
一种线性的电光晶体半波电压快速测量装置及其方法,通过利用偏光干涉原理将外电压下电光晶体引入的相位延迟转换成干涉条纹的移动,并采用高速相机对条纹的移动进行测量,获取相位延迟量。当外加电压使电光晶体引入的相位延迟为180°...
来源: 万方专利 评论
一种基于微波片阵列的瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法
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作者: 许灿华 马靖 裴丽 邱鑫茂 施洋 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
本发明涉及一种基于微波片阵列的瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法,利用微波片阵列对望远镜获取的遥感图像进行偏振调制,再通过单向偏振片转换成二维光强分布。对二维光强进行数据反演可以获得遥感图像的偏振态信息。所用的微波片阵...
来源: 万方专利 评论
一种多波长入射单发椭偏测量方法
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作者: 马靖 许灿华 裴丽 邱鑫茂 吕佩伟 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
本发明涉及一种多波长入射单发椭偏测量方法,首先提供宽光谱激光光源、宽带偏振片、样品、扩束镜、宽带1/4波片、晶体斜劈、宽带检偏器、狭缝、透射光栅、成像屏、面阵相机以及计算机,通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化...
来源: 万方专利 评论
一种高时间分辨率高精度的椭偏测量装置及其方法
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作者: 马靖 许灿华 裴丽 邱鑫茂 施洋 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区
一种高时间分辨高精度的椭偏测量方法,该方法利用偏光干涉原理将样品通光或反射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动,并利用高速相机对条纹的移动进行测量,获取椭偏参数和样品的光学参数。该椭偏测量方法的测量结果不受光源功率波动...
来源: 万方专利 评论